第6回〜アナログテストでごめんなさい その２

アナログテストでごめんなさい、第2回目です。

今回は、テスト抜けがあって市場不良を出してしまった話です。

なぜテスト抜けとなってしまったのか、すでに全く覚えていないのですが、原因はともかくどのようなテスト抜けが起こっていたのかは覚えているので、ご紹介します。

LSIのテストは結構長い期間メイン業務としてやっていましたが、担当製品で明らかなテスト抜けが原因の市場不良を起こしてしまったのはこの製品だけです。

しかも、担当から外れていた時期に市場不良が出たので、後始末を他の方がやってくださって、20年近く経った今でも、お客様及び後始末をして下さった方には本当に申し訳なく思っています。

第3回〜アナログテストでごめんなさい

シングルチップマイコンには、だいぶ前からA/Dコンバーター（ADC）やD/Aコンバーター（DAC）が搭載されています。私がいた会社のマイコン製品群にも当たり前のように搭載されていました。

もっとも、性能面では、当時たとえばADCは5Vフルスイングの10bit解像度、変換時間がシステムクロックで20クロック前後、つまり10MHz動作の製品だと2μsec、変換誤差が±2LSBぐらいのスペックのものだったので、高速高性能の要求に応えられるようなものではありませんでした。今現在の製品はよく知りませんけどね。

当時やろうとしていたCPU搭載ASICでは、これらも含めてASICライブラリー化しようとしていたので、当然これらADC、DACの製造テストを考えなければなりません。

今回は、この辺のお話で、タイトルにあるように「ごめんなさい」なお話をご紹介します。ADC、DACを専門的に扱っている方から見たら、なんとレベルの低い話、と思われるかも知れません。申し訳ありません。