この携帯電話向けASICは、回路規模がとても大きく、DFT技術もそれほど進んでいない時代でしたので、その分テストパターンの量が膨大でした。
しかも、DSP付き32bit CPUコアのテストだけは、当面異なる機種のLSIテスターを使わなければならない事情があり、余計に大変なことになっていました。
テストパターンの量が多くなると、やることが増えることになる訳で、色々な問題が出て来ます。そして、色々なミスやトラブルが出ます。
今回は少し与太話のような内容になります。しかし、今回ご紹介する事例で、実際当時は非常に厳しい事態にもなりました。
なお、今回のエントリーでは、テストに関する幾つかのトラブルについて書きますが、決して当事者の方を非難したりする意図はありません。ご理解ください。
