2016年6月21日火曜日

第3回〜アナログテストでごめんなさい

シングルチップマイコンには、だいぶ前からA/Dコンバーター(ADC)やD/Aコンバーター(DAC)が搭載されています。私がいた会社のマイコン製品群にも当たり前のように搭載されていました。

もっとも、性能面では、当時たとえばADCは5Vフルスイングの10bit解像度、変換時間がシステムクロックで20クロック前後、つまり10MHz動作の製品だと2μsec、変換誤差が±2LSBぐらいのスペックのものだったので、高速高性能の要求に応えられるようなものではありませんでした。今現在の製品はよく知りませんけどね。

当時やろうとしていたCPU搭載ASICでは、これらも含めてASICライブラリー化しようとしていたので、当然これらADC、DACの製造テストを考えなければなりません。

今回は、この辺のお話で、タイトルにあるように「ごめんなさい」なお話をご紹介します。ADC、DACを専門的に扱っている方から見たら、なんとレベルの低い話、と思われるかも知れません。申し訳ありません。

2016年6月16日木曜日

第2回〜2相クロックの罠

はじめに

第2回目は、私が会社に入って最初に任されたまとまった仕事のことを書きます。

会社に入って最初の年は、ひたすら机でお勉強することと、いろんなソケットの半田付けなんかが主立った仕事でしたが、その年の秋頃から評価用のLSIの実装機評価を任されました。

これはタイマーとかシリアルインタフェースといったマイコン周辺機能のブロックだけを入れたLSIを作って(LSIの開発自体は別の人がやってました)、それを実装機で動かして機能の評価をする、という仕事で、たしか評価対象のLSIは、ウォッチドッグ・タイマーフリーランタイマークロック同期シリアルインタフェース調歩同期シリアルインタフェースの4チップ。

おそらく、機能的にそれほどたいしたものではないっていうことから、先輩方も新人に任せたのでしょう(調歩同期はちょっと厄介だけど)。

ところが、動かない・・・


2016年6月9日木曜日

第1回〜他部署のテストベクタのバグを見つけちゃった

第1回目の今回は、自分の業務経験の中で、最も技術的、そして力業(ちからわざ)的によくできたと思っている事案をご紹介します。技術的に良く出来たとは言っても、技術レベルが高いという話では全くないのですけれど(苦笑)

それは、自部門の製品開発のために、他部門から頂いてきた設計データ一式の中に入ってた、LSIテスト用のテストベクタ、しかもそれはすでに結構な数量の出荷実績のある製品シリーズ共通で使われていたテストベクタにバグがあることを、量産工程へのテストデータ払い出し直前に見つけちゃって、力業(ちからわざ)で直して適用したっていう話です。

しかもテストベクタとは言っても、内蔵しているCPUで動作するプログラムのアセンブラソースがおかしいっていうお話でして、結構話が面倒なのです。だから力業(ちからざわ)と申し上げているのでして・・・。

しかしまあ、数百万個出荷された製品シリーズのテストに製品シリーズ共通で使われていたテストベクタに紛れ込んでいたバグだったので、見つけたこっちが青くなりました。

エンドユーザーに渡るデータではないにしても、テストベクタは不良を外部に流出させないための砦ですから、ちゃんとコードレビューをしないといけませんね。